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场发射透射电子显微镜
Tecnai G2 F20 S-Twin

生产厂家:美国FEI 公司主要配置:• Gatan 894 CCD(2K×2K)• STEM/HAADF探测器• 美国EDAX能谱仪• 低剂量曝光• 单倾样品杆、双倾样品杆、低背景双倾样品杆性能指标:• 场发射电子枪• 加速电压:20-200 kV连续调节• 放大倍数:25-1,000,000• 点分辨率:0.24nm• 线分辨率:0.102nm;• 信息分辨率:≤0.14nm• STEM分辨率:0.20 nm• STEM放大倍数:200-100,000,000 • EDS分辨率:优于136 eV,分辨元素范围B5-U92• 最大样品倾角:±40°主要用途:• 该电镜是一台功能强大的材料分析型电子显微镜,广泛应用于生物、医药、化工、金属、半导体材料、 高分子材料、陶瓷、纳米材料等领域,可对材料的粒度、形貌、成分、内部结构和缺陷进行分析;• 其配备的STEM/HAADF附件可以成和原子序数相关的像,和能谱仪结合还可以很方便的测量样品微区 元素的线分布和面分布,对于高分辨像的解析非常有利;• 像素高达2K×2K的CCD可以及时将电子显微像转换成数字照片进行输出,极大的方便了用户。 联系人:张锦平:0512-62872536,jpzhang2008@sinano.ac.cn曾雄辉:0512-62872545, xhzeng2007@sinano.ac.cn