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Loomis解理机
技术指标: 样片要求:样品必须经过减薄至100μm左右 应用领域: 用于对GaAs、InP等样品的解理。

技术指标:    

样片要求:样品必须经过减薄至100μm左右

   

应用领域:    

用于对GaAs、InP等样品的解理。